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      晶圓級探針座

      P0.2mm以上晶元級別測試的低成本、高性能測試插座

      -相比探針針卡有很大的成本優勢

      -適用P0.2mm WLCSP 產品

      -適用手測、機測等多種測試方式

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      產品介紹

      FTD晶圓級探針座,適用P0.2mm以上的晶元封裝,具有良好適用壽命和較低的成本優勢。

      產品特點

      -適用Pogo PIN作為接觸部件

      -支持Kelvin測試

      -出色的接觸電阻和電流承受能力

      封裝類型

      ● WLCSP封裝

      機械性能

      ● 產品引腳間距: 0.2mm 及以上

      ● 探針彈力: 15g -30g

      ● 測試行程:0.5mm -0.85mm


      可靠性

      ● 探針使用壽命:250K

      ● 測試插座使用壽命: >5KK 

      ● 清潔頻率:50K


      使用材料

      ● socket材料: 工程塑料

      ● 彈簧探針頭材料: 合金 

      ● 彈簧材料: 彈簧鋼


      電性能

      ● 接觸電阻:80mΩ

      ● 電流承載能力:2.0A 持續電流


      使用環境

      ●  溫度范圍: -55°C - 150°C

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