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      老化插座

      低成本,高性能老化測試標準插座

      老化插座:

            28 family Size 28x38mm

            3S family Size 38x48mm

            55 family Size 55x65mm

      適用產品尺寸:

            0.35mm(19x19 contact max)

            0.40mm(16x16 contact max)

            0.50mm(10x10 contact max)

            0.65mm(32x32 contact max)

            BGA/QFN(LGA)

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      產品介紹

      FTD標準老化系列插座。采用注塑與加工相結合的結構,具有良好的使用壽命和可靠性同時又較低客戶的采購成本。

      產品特點

      -適用Pogo PIN作為接觸部件

      -支持高頻芯片測試

      -很好的熱傳導性能與可靠性

      -出色的接觸電阻和電流承受能力

      封裝類型

      ● 球陣列封裝s:BGA, LGA, WLCSP, others – 350 μm pitch and up

      ● 引腳類封裝: QFP, SO, others – 350 μm pitch and up

      ● 無引腳封裝: QFN, others – 350 μm pitch and up


      機械性能

      ● 產品引腳間距: 0.4mm 及以上

      ● 探針彈力: 15g -40g

      ● 測試行程:0.3mm -0.65mm

      可靠性

      ● 探針使用壽命:200K

      ● 測試插座使用壽命: 5000小時

      ● 清潔頻率:50K


      使用材料

      ● socket材料: 工程塑料

      ● 彈簧探針頭材料: 合金 

      ● 彈簧材料: 彈簧鋼


      電性能

      ● 接觸電阻:100mΩ

      ● 電流承載能力:1.0A 持續電流

      ● 介電強度能力 : AC100V rms 1 min

      ● 絕緣電阻能力 : 1000MΩ min 


      使用環境

      ● 溫度范圍: -55°C - 150°C

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